Mettler-Toledo 于Interpack 亮相，展示經濟實惠的智能檢測技術
Mettler-Toledo 產品檢測部門在 Interpack 2023 上展示各種獨立與完全集成式自動化智能產品檢測系統。在 11 號展廳 A60 展位展示的先進產品檢測技術旨在幫助食品生產商提高生產效率、提高產品安全性、保護品牌聲譽以及降低召回風險。這套技術為從配料階段到包裝整個過程提供了高性能檢測能力。在 Interpack 上推出的主要新技術包括：
• X 射線檢測 — X2 系列具有出色的檢測靈敏度性能與更強的產品質量控制能力，有助于減少產品召回。X2 系列目前包括兩個 X 射線檢測系統，分別是 X12 與 X32，這種面向未來的技術是一種經濟高效的污染物檢測與質量控制解決方案。
• 金屬檢測 — 創新的 SENSE™ 軟件增強功能為 Mettler-Toledo M30 R 系列金屬檢測系統提供了更高的金屬檢測保護與性能。這款軟件可以提高 M30 R 系列的自動化水平，并且以經濟劃算的方式實現合規，以滿足希望提高生產效率的生產商的需求。
“我們很高興在 Interpack 上展示產品檢測技術方面的這些創新成果。”德國 Mettler-Toledo 產品檢測營銷主管 Rainer Mundt 說道。“我們設計了許多新的檢測解決方案，以幫助那些希望提高生產效率、節省利潤成本、提高食品安全性以及促進合規性的食品生產商實現真正的改變。通過展示我們的一系列檢測系統與數據管理軟件，我們可以幫助食品生產商朝著數字化與可持續發展的未來邁進。”
前往 Interpack A60 展位的參觀者可以目睹到：
X 射線檢測解決方案不僅具有污染物檢測功能
全新的 X2 系列亮相展臺，該系列經過設計可以檢測中小型包裝產品以及寬度為 300 毫米與 400 毫米的輸送帶。X2 系列中的 X 射線檢測解決方案能夠始終如一地提供高性能檢測功能，從而幫助確保食品的安全性與質量。該系統的一個重要功能是 ContamPlus™ 軟件，該軟件可以增強檢測能力，從而識別各種污染物，包括玻璃、金屬、礦石、鈣化骨、高密度塑料與橡膠化合物等。X2 系列分為兩種型號：
• X12 — 具有多種功能的單通道 X 射線檢測系統，可以經濟有效地檢測污染物與進行質量控制。
• X32 — 先進的 X 射線解決系統，分為標準配置與定制配置，具有單通道或多通道檢測能力以及完整性檢查功能，具有出色的檢測性能。
除了新的 X2 系列之外，Mettler-Toledo 還為食品生產商提供了 X34C 緊湊型 X 射線檢測系統。X34C 可以在快速生產時檢測獨立包裝小零食與糖果中的異物。因此，在對單個產品進行流動包裝或密封后，X34C 可以立即為客戶進行經濟有效的檢測。由于 X34C X 射線檢測系統采用緊湊型設計，長度僅為 700 毫米，因此非常適合在空間非常有限的生產線上使用。X34C 支持高達每分鐘 120 米的輸送帶速度。這樣可以將 X 射線檢測同許多成型、灌裝與封口機（例如在糖果行業中用于包裝單個產品的機器）的高速相匹配。
Mettler-Toledo 憑借 X36 X 射線檢測系統采用的 DXD 與 DXD+，提供了強大的 X 射線檢測解決方案，該解決方案采用雙能檢測機技術，可以檢測包裝食品中的低密度污染物。新技術可幫助食品生產商避免產品召回、減少食品浪費造成的非必要成本、提高產品可靠性以及加強品牌保護。DXD 與 DXD+ 雙能檢測機技術經過優化，可以檢測多種異物，例如：骨頭、低礦物玻璃與橡膠以及各種塑料。這些類型的異物往往難以檢測，因為檢測重疊與多紋理產品（例如：意大利面、雞胸肉、香腸與冷凍馬鈴薯制品）時會生成復雜的 X 射線圖像。
金屬檢測系統可準確識別金屬
M30 R 系列金屬檢測系統是首個采用創新與突破型 SENSE™ 軟件的產品系列。在 Interpack 上展示的是采用最新 SENSE™ 軟件的升級產品，具有更高的生產效率與合規性功能。全新的智能 SENSE™ 軟件采用功能強大的算法，有助于為各類金屬污染物提供出色的檢測靈敏度。在 Interpack 上循環展示的 M30 R 系列采用 ProdX™ 技術，因此觀展者可以見證最新型號的金屬檢測設備如何能夠幫助實現數字化目標以及提高生產效率。
這些智能系統適用于希望檢測金屬污染物，并且具有出色的檢測靈敏度與面向未來靈活性的食品生產商。擁有 M30 R 系列之后，客戶可以根據生產與合規要求以及預算因素選擇金屬檢測機。
在今年展臺上亮相的其中一個系統是 M33R 優選型金屬檢測機，該型號頻率高，可提高對干燥或深度冷凍產品的靈敏度。此外，它還具有可擴展的 I/O 與模塊化升級功能，可幫助食品生產商提高生產效率與降低總擁有成本。
觀展者還可以目睹 M34R 優選型金屬檢測機的風采，該型號采用雙頻同步技術，有助于減小產品效應，特別適用于苛刻應用。與傳統的單頻系統相比，該解決方案的檢測靈敏度更高，球面靈敏度提高了 25%，并明顯降低了誤剔率。典型應用為潮濕與/或導電產品，例如：肉類、家禽、海產品與乳制品，以及采用金屬膜包裝的食品。所有 M30 R 系列金屬檢測機還可以與各種輸送機集成，包括 Mettler-Toledo GC 系列。
此外，Mettler-Toledo 還展示一款采用 ATS（自動測試系統）的自由落體式金屬檢測系統，該系統在 CFIA 2019 上榮獲健康、安全與環境質量創新獎。使用 ATS，生產商可以通過自動進給測試件縮短測試時間，從而明顯減少停機時間與幫助提高生產效率。此外，更準確的結果與一致的測試過程可以為合規提供更多優勢。
使用自動檢重秤進行精確稱重
現在，所有 Mettler-Toledo 動態檢重秤均配備獲得專利的 FlashCell™ 電磁補償力 (EMFR) 稱重傳感器技術。該技術能夠以每分鐘處理多達 800 個包裝的速度進行精確稱重。在 Interpack，觀展者可以體驗 FlashCell™ 與沖洗型自動檢重秤的運行情況，該自動檢重秤專為惡劣的生產環境而設計，支持高強度與頻繁清潔，同時具有可靠的準確度。
使用數據管理軟件實現無紙化作業
借助 ProdX™，食品生產商可從全面的產品檢測管理中獲益，包括廣泛的安全功能、數字化跟蹤與追溯、性能測試的自動記錄以及測試與合規性數據的實時記錄。高度直觀的軟件可提供合規所需的關于產品剔除事件的無紙化記錄，這意味著生產商可以節省填寫表格、歸檔與整理信息以進行報告與趨勢分析的時間。ProdX™ 基于工業 4.0 機器與機器之間安全通信的原則，為與區塊鏈技術的連接做好準備。該軟件可幫助實現食品安全合規性數字化，縮短合規性審計時間，并有助于加快產品召回。
循環展示
Mettler-Toledo 循環展示其各種產品檢測解決方案，將其與 X32 X 射線檢測系統、M34R 優選型金屬檢測機以及自動檢重秤連接。所有這些解決方案均與實際產品一起實時運行，并與數據管理軟件 ProdX™ 連接，實時模擬結果。
可直接從展位購買
在 Interpack 上，可以在展臺以折扣價直接購買一些 Mettler-Toledo 智能產品檢測解決方案。歡迎前往 11 號展廳A60 展位了解更多信息。
記者活動通知
Mettler-Toledo 是“節約糧食”倡議的成員，該倡議旨在減少產品與食品浪費。在 5 月 9 日 （星期二）上午 10 點 45 分舉行的“聚焦演講與趨勢”活動上（Nordbahnhof 入口區域），Mettler-Toledo 市場經理 Adam Green 將發表關于“X 射線檢測如何幫助提高生產效率、減少食品浪費以及確保產品安全”的演講。
• X 射線檢測 — X2 系列具有出色的檢測靈敏度性能與更強的產品質量控制能力，有助于減少產品召回。X2 系列目前包括兩個 X 射線檢測系統，分別是 X12 與 X32，這種面向未來的技術是一種經濟高效的污染物檢測與質量控制解決方案。
• 金屬檢測 — 創新的 SENSE™ 軟件增強功能為 Mettler-Toledo M30 R 系列金屬檢測系統提供了更高的金屬檢測保護與性能。這款軟件可以提高 M30 R 系列的自動化水平，并且以經濟劃算的方式實現合規，以滿足希望提高生產效率的生產商的需求。
“我們很高興在 Interpack 上展示產品檢測技術方面的這些創新成果。”德國 Mettler-Toledo 產品檢測營銷主管 Rainer Mundt 說道。“我們設計了許多新的檢測解決方案，以幫助那些希望提高生產效率、節省利潤成本、提高食品安全性以及促進合規性的食品生產商實現真正的改變。通過展示我們的一系列檢測系統與數據管理軟件，我們可以幫助食品生產商朝著數字化與可持續發展的未來邁進。”
前往 Interpack A60 展位的參觀者可以目睹到：
X 射線檢測解決方案不僅具有污染物檢測功能
全新的 X2 系列亮相展臺，該系列經過設計可以檢測中小型包裝產品以及寬度為 300 毫米與 400 毫米的輸送帶。X2 系列中的 X 射線檢測解決方案能夠始終如一地提供高性能檢測功能，從而幫助確保食品的安全性與質量。該系統的一個重要功能是 ContamPlus™ 軟件，該軟件可以增強檢測能力，從而識別各種污染物，包括玻璃、金屬、礦石、鈣化骨、高密度塑料與橡膠化合物等。X2 系列分為兩種型號：
• X12 — 具有多種功能的單通道 X 射線檢測系統，可以經濟有效地檢測污染物與進行質量控制。
• X32 — 先進的 X 射線解決系統，分為標準配置與定制配置，具有單通道或多通道檢測能力以及完整性檢查功能，具有出色的檢測性能。
除了新的 X2 系列之外，Mettler-Toledo 還為食品生產商提供了 X34C 緊湊型 X 射線檢測系統。X34C 可以在快速生產時檢測獨立包裝小零食與糖果中的異物。因此，在對單個產品進行流動包裝或密封后，X34C 可以立即為客戶進行經濟有效的檢測。由于 X34C X 射線檢測系統采用緊湊型設計，長度僅為 700 毫米，因此非常適合在空間非常有限的生產線上使用。X34C 支持高達每分鐘 120 米的輸送帶速度。這樣可以將 X 射線檢測同許多成型、灌裝與封口機（例如在糖果行業中用于包裝單個產品的機器）的高速相匹配。
Mettler-Toledo 憑借 X36 X 射線檢測系統采用的 DXD 與 DXD+，提供了強大的 X 射線檢測解決方案，該解決方案采用雙能檢測機技術，可以檢測包裝食品中的低密度污染物。新技術可幫助食品生產商避免產品召回、減少食品浪費造成的非必要成本、提高產品可靠性以及加強品牌保護。DXD 與 DXD+ 雙能檢測機技術經過優化，可以檢測多種異物，例如：骨頭、低礦物玻璃與橡膠以及各種塑料。這些類型的異物往往難以檢測，因為檢測重疊與多紋理產品（例如：意大利面、雞胸肉、香腸與冷凍馬鈴薯制品）時會生成復雜的 X 射線圖像。
金屬檢測系統可準確識別金屬
M30 R 系列金屬檢測系統是首個采用創新與突破型 SENSE™ 軟件的產品系列。在 Interpack 上展示的是采用最新 SENSE™ 軟件的升級產品，具有更高的生產效率與合規性功能。全新的智能 SENSE™ 軟件采用功能強大的算法，有助于為各類金屬污染物提供出色的檢測靈敏度。在 Interpack 上循環展示的 M30 R 系列采用 ProdX™ 技術，因此觀展者可以見證最新型號的金屬檢測設備如何能夠幫助實現數字化目標以及提高生產效率。
這些智能系統適用于希望檢測金屬污染物，并且具有出色的檢測靈敏度與面向未來靈活性的食品生產商。擁有 M30 R 系列之后，客戶可以根據生產與合規要求以及預算因素選擇金屬檢測機。
在今年展臺上亮相的其中一個系統是 M33R 優選型金屬檢測機，該型號頻率高，可提高對干燥或深度冷凍產品的靈敏度。此外，它還具有可擴展的 I/O 與模塊化升級功能，可幫助食品生產商提高生產效率與降低總擁有成本。
觀展者還可以目睹 M34R 優選型金屬檢測機的風采，該型號采用雙頻同步技術，有助于減小產品效應，特別適用于苛刻應用。與傳統的單頻系統相比，該解決方案的檢測靈敏度更高，球面靈敏度提高了 25%，并明顯降低了誤剔率。典型應用為潮濕與/或導電產品，例如：肉類、家禽、海產品與乳制品，以及采用金屬膜包裝的食品。所有 M30 R 系列金屬檢測機還可以與各種輸送機集成，包括 Mettler-Toledo GC 系列。
此外，Mettler-Toledo 還展示一款采用 ATS（自動測試系統）的自由落體式金屬檢測系統，該系統在 CFIA 2019 上榮獲健康、安全與環境質量創新獎。使用 ATS，生產商可以通過自動進給測試件縮短測試時間，從而明顯減少停機時間與幫助提高生產效率。此外，更準確的結果與一致的測試過程可以為合規提供更多優勢。
使用自動檢重秤進行精確稱重
現在，所有 Mettler-Toledo 動態檢重秤均配備獲得專利的 FlashCell™ 電磁補償力 (EMFR) 稱重傳感器技術。該技術能夠以每分鐘處理多達 800 個包裝的速度進行精確稱重。在 Interpack，觀展者可以體驗 FlashCell™ 與沖洗型自動檢重秤的運行情況，該自動檢重秤專為惡劣的生產環境而設計，支持高強度與頻繁清潔，同時具有可靠的準確度。
使用數據管理軟件實現無紙化作業
借助 ProdX™，食品生產商可從全面的產品檢測管理中獲益，包括廣泛的安全功能、數字化跟蹤與追溯、性能測試的自動記錄以及測試與合規性數據的實時記錄。高度直觀的軟件可提供合規所需的關于產品剔除事件的無紙化記錄，這意味著生產商可以節省填寫表格、歸檔與整理信息以進行報告與趨勢分析的時間。ProdX™ 基于工業 4.0 機器與機器之間安全通信的原則，為與區塊鏈技術的連接做好準備。該軟件可幫助實現食品安全合規性數字化，縮短合規性審計時間，并有助于加快產品召回。
循環展示
Mettler-Toledo 循環展示其各種產品檢測解決方案，將其與 X32 X 射線檢測系統、M34R 優選型金屬檢測機以及自動檢重秤連接。所有這些解決方案均與實際產品一起實時運行，并與數據管理軟件 ProdX™ 連接，實時模擬結果。
可直接從展位購買
在 Interpack 上，可以在展臺以折扣價直接購買一些 Mettler-Toledo 智能產品檢測解決方案。歡迎前往 11 號展廳A60 展位了解更多信息。
記者活動通知
Mettler-Toledo 是“節約糧食”倡議的成員，該倡議旨在減少產品與食品浪費。在 5 月 9 日 （星期二）上午 10 點 45 分舉行的“聚焦演講與趨勢”活動上（Nordbahnhof 入口區域），Mettler-Toledo 市場經理 Adam Green 將發表關于“X 射線檢測如何幫助提高生產效率、減少食品浪費以及確保產品安全”的演講。
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